Formation Analyse de Données Topologiques avec TTK

Objectifs

1. Initiation aux méthodes topologiques d’analyse et de visualisation de données
2. Découvrir leurs principaux concepts et applications typiques
3. Appliquer ces concepts avec TTK et ParaView sur des cas d’utilisation concrets en mécanique des fluides, traitement d’images, chimie quantique, bioimagerie, …

Prérequis

• Bases de ParaView

Programme

• Concepts (matin)
  • Introduction à l’analyse topologique de données (TDA) avec TTK
  • Introduction à l’écosystème ParaView pour la TDA
• Application et exercices (après-midi)
  • Extraction de points saillants avec des diagrammes de persistance – Application à l’extraction de vortex
  • Composants saillants avec arbres de fusion – Application à la segmentation de données médicale
  • Filaments et bassins du complexe de Morse-Smale – Applications à la segmentation d’images, à l’extraction de structures moléculaires, à la reconstruction de surface, au clustering de données
  • Suivi de points critiques dans le contexte de données temporelles – Application au suivi de vortex

Cette formation sera donnée en anglais sauf si tous les participants maîtrisent la langue française.

Pour cette formation, chaque participant doit venir avec son ordinateur portable. Les spécificités d’installation seront communiquées en amont par l’instructeur.

Les supports de cours sont en anglais.

Les formations Kitware peuvent être personnalisées et dispensées selon vos besoins aux centres de formation Kitware (En Europe: Lyon, France; ou aux USA: Clifton Park, New York; Carrboro, North Carolina; Santa Fe, New Mexico) ou dans votre entreprise (demande de devis).